vol.14 深さ分析前処理作業を簡単操作で実現！

マイクロハンドリングニュース vol.14

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アプリケーションのご紹介

深さ分析前処理作業を簡単操作で実現します！

今回は、材料の層構造を分析する際の前処理についてご紹介したいと思います。

フィルム等の積層材料の各層は微小構造となっています。

その積層部ごとを分析するには、ミクロトームなどによる断面ですと情報が不足してしまいます。

そこで、断面情報を拡大するために有効な手法がございます。

弊社扱いの前処理装置「卓上傾斜切削機」を使用すれば、

簡単な操作で試料表面からの切削面上に

6～300倍拡大の深さ情報が得られます。

切削ができれば、顕微赤外分光高度計（顕微FTIR）による以下の測定法での分析が可能となります。

・顕微ATR法（Line Scan）

・ATRイメージング法

表面切削に関しては、ご評価デモも行っておりますので、是非ご検討ください。

その他、サンプリング作業でお困りごとや解決したい事案がございましたら、遠慮なくご相談ください。

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